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一般の共同利用の装置一覧・検索

以下は「一般の共同利用」で公募、利用申請する装置の一覧です。これらの装置、設備は研究室毎に管理運用しています。装置詳細は該当研究室ページをご覧いただくか、各担当者にお問い合わせください。具体的な共同利用の様子や雰囲気、成果は、物性研で年1回発行している “Activity Report” 、または年4回発行している「物性研だより」 をご覧ください。

板谷研究室
  • 高強度赤外レーザーシステム
  • 高強度中赤外レーザーシステム
  • 近赤外フェムト秒分光装置
井上研究室
  • レーザー過渡吸収測定(フラッシュフォトリシス)システム(サブマイクロ秒以上)
  • 定常レーザー照射下吸収スペクトル測定系(QEProサイエンティフィックグレード分光器)
  • 蛍光光度計
  • タンパク質アフィニティー・ゲル濾過クロマトグラフィーシステム(AKTA go, start)
  • 光励起パッチクランプ(電機生理)計測システム
  • 共焦点レーザー顕微鏡
  • カルシウムイメージング顕微鏡
上床研究室
  • 定荷重式キュービックアンビル圧力発生装置
岡﨑研究室
  • 極低温超高分解能レーザーARPES
  • 高次高調波レーザー時間分解ARPES
長田研究室
  • 磁場中電気伝導測定装置(3He)
勝本研究室
  • 超微細構造作製装置(20nm細線)
  • 半導体超薄膜結晶作製装置
  • 希釈冷凍機(10mK, 15T)
小林研究室
  • 高出力フェムト秒ファイバーレーザーシステム
  • 光周波数コム
  • 各種融着装置
  • 紫外レーザー装置
  • 白色干渉顕微鏡
  • レーザー顕微鏡
  • 中赤外超高分解分光器
  • 電子顕微鏡
近藤研究室
  • 汎用型高分解能レーザーARPES
長谷川研究室
  • 走査トンネル顕微鏡(超高真空仕様、室温、オミクロン社製)
  • 走査トンネル顕微鏡(5K、面直2T・面内1T、超高真空仕様)
  • 走査トンネル顕微鏡(0.4K、面直7T、超高真空仕様、ユニソク製)
益田研究室
  • PPMS
  • 高エネルギーX線透過ラウエ装置
松永研究室
  • テラヘルツ時間領域分光装置
  • 高感度テラヘルツ偏光回転測定装置
  • UV-VIS-NIR-MIR超高速時間分解システム
  • 高強度テラヘルツ光源・時間分解測定システム
三輪研究室
  • 原子間力顕微鏡(日立ハイテク)
  • 高周波プローブ装置(東栄科学産業)
  • パルスレーザー装置(コヒレント・ジャパン)
  • 成膜装置(ビームトロン)
森研究室
  • 核磁気共鳴装置 JEOL JNM-Al300
  • 単結晶自動X線構造解析装置 MercuryⅡ
  • 質量分析装置 JEOL JMS-T200
  • スピン磁気共鳴装置 Bruker EMX
  • インピーダンス測定装置 ソーラトロン 1260型+1296型
  • インピーダンス測定装置 Agilent 4294A型
  • 磁気特性測定装置 MPMS (Quantum Design)
  • 3ゾーン管状炉
山下研究室
  • 超低温測定システム(1-200mK, 13T)
  • VTI測定システム(2-300K, 15T)
  • 希釈冷凍機測定システム(0.1-10K, 14T)
  • 極低温磁化測定装置(15Tマグネット+希釈冷凍機、9T+3He冷凍機)
山室研究室
  • 断熱型熱量計(5-350K)
  • 示差走査熱量計(90-1000K)
  • 示差熱重量分析装置(300-1300K)
  • 回転式レオメータ(120-800K、1μHz-150Hz)
  • 液体・粉末用X線回折装置(3-470K、0.01〜17 Å-1 (Cu及びMo管球を使用))
  • 誘電率・伝導度測定装置(2-330K、10μHz-10MHz)
  • 光学式ディラトメーター(150-800K)
吉信研究室
  • 表面赤外分光装置
  • 独立駆動4探針表面電気伝導測定装置
  • HREELSシステム
  • XPS/UPS+昇温脱離質量分析システム
  • 角度分解・X線光電子分光装置
Lippmaa研究室
  • TALIS9700 Ion Scattering Spectrometer
軌道放射物性研究施設
  • 雰囲気光電子分光装置(X線管)松田巌研
  • スピン角度分解光電子分光装置(レーザー)近藤研
  • 磁気カー効果測定装置(レーザー)松田巌研

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2021.4.1