ポスター発表者
ポスターall
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軟X線ARPESを利用したトポロジカル相図の決定:セリウムモノプニクタイドCeX (X: P, As, Sb and Bi) |
黒田健太(ISSP) |
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2 |
共鳴非弾性軟X線散乱を用いたペロブスカイトNi酸化物の電荷秩序状態観測 |
山神光平(ISSP) |
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3 |
軟X線コヒーレンスを用いた小角散乱測定とGd/Fe超格子への適用 |
山本航平(ISSP) |
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4 |
バルク敏感レーザーARPESで観察する反強磁性体Ceモノプニクタイドの電子構造 |
新井陽介(ISSP) |
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5 |
Structure analysis of BaTiO3 /Pt (111)/Si quascicrystal thin film by photoelectron diffraction |
深見駿(NAIST) |
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6 |
時間分解共鳴軟X線散乱によるスピン軌道液体Ba3 CuSb2 O9 の光誘起ダイナミクス測定 |
田久保耕(ISSP) |
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7 |
Nano-ARPESで選択観測する弱いトポロジカル絶縁体β-Bi4 I4 の側面ディラック電子状態 |
野口亮(ISSP) |
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8 |
バルク層状反強磁性体EuSn2 As2 における磁気に結合した二次元電子状態の観測 |
櫻木俊輔(ISSP) |