高橋研究室
教授
高橋 敏男
助教
白澤 徹郎
研究室ホームページへX線などの回折・散乱の基礎研究とその応用。とくに干渉現象を利用して、結晶の表面や界面の構造、ナノ構造などを解明する方法の開発を行っている。 回折散乱の実験では、観察されるのは散乱波の振幅ではなく強度である。このため、散乱波が本来もっていた位相情報が消えてしまい、一般には観察した散乱強度データから直ちに試料の構造を再構成することは困難である。この回折散乱における位相問題の解決に関連づけて、実験データから直接的に界面原子層をイメージングする方法の開発や、多波回折条件を利用する方法や蛍光X線ホログラフィなどを行っており、これらを擬一次元金属、金属シリサイド界面、有機薄膜などに適応して新しい知見を得ている。 また、表面・界面からのX線散乱強度分布を迅速に測定する新しい実験方法を他研究機関と共同で開発しており、これを用いた表面・界面のダイナミクスの観察を目指している。
位相回復アルゴリズムを用いて、測定したX線回折強度分布から再構成したSi(553)表面上のAu一次元鎖の電子密度マップ。 
測定したＸ線回折強度から直接的にイメージングしたBi薄膜/Si(111)界面構造。Research Subject
- 回折散乱法を利用した結晶表面・界面構造、ナノ構造の解析
- 表面界面などの構造評価法の開発
- X線領域における非線形光学など新しい光学分野の開拓
- X線回折物理、X線・中性子光学、干渉計
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2013
1.
PDF
Structure of a Bi/Bi2Te3 heteroepitaxial film studied by x-ray crystal truncation rod scattering: T. Shirasawa, J. Tsunoda, T. Hirahara and T. Takahashi, Phys. Rev. B 87 (2013) 075449(1-5).
2.
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A method for measuring the specular X-ray reflectivity with millisecond time resolution: W. Voegeli, T. Matsushita, E. Arakawa, T. Shirasawa, T. Takahashi and Y. F. Yano, J. Phys.: Conf. Ser. 425 (2013) 092003(1-4).
2012
3.
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Surface relaxation of topological insulators: Influence on the electronic structure: N. Fukui, T. Hirahara, T. Shirasawa, T. Takahashi, K. Kobayashi and S. Hasegawa, Phys. Rev. B 85 (2012) 115426(1-4).
4.
X線物理学の基礎: 雨宮 慶幸, 高橋 敏男, 百生 敦, 篠原 佑也, 白澤 徹郎, 矢代 航, ((株)講談社, 東京都文京区音羽2-12-21, 2012).
5.
「表面X線回折によるペンタセン超薄膜の構造解析」 大山 真実, 新領域物質系 (2012).