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伊藤 功 氏が日本ナショナルインスツルメンツ主催のアプリケーションコンテスト2010で最優秀賞を受賞

伊藤 功 氏(右)

伊藤 功 氏(軌道放射物性研究施設 技術職員)が日本ナショナルインスツルメンツ主催のアプリケーションコンテスト2010で最優秀賞を受賞しました。

このアプリケーションコンテストはLabVIEWやPXIシステムなどのナショナルインスツルメンツ製のソフトウェア・ハードウェアを使用したアプリケーションを全国のユーザーより募り、技術、コスト、革新性等の面から審査するコンテストです。

今回の受賞対象になったのは伊藤 功 氏をはじめとする軌道放射物性研究施設マシングループ(中村研究室)が開発した「偏光制御アンジュレータ用電磁石型移相器のためのフリップコイル直流積分磁場測定システム」です。この測定システムは、磁場中でコイルを回転させることで発生する誘導電圧から積分磁場を計測する装置で、東京大学がSPring-8に建設した偏光制御アンジュレータで実用が検討されている電磁石型移相器の性能評価のために開発されました。このフリップコイル直流積分磁場測定システムにより0.3mAの分解能の電流ランプ制御と2G・cmの分解能の直流積分磁場測定が可能となり、さらにこれまで1時間以上かかっていた測定をわずか1秒以内で行えるようになりました。

10月29日(金)に東京プリンスホテルで開催されたLabVIEW Tech Summit 2010で授賞式と講演が行われました。詳細は日本ナショナルインスツルメンツのサイトをご覧ください。
http://digital.ni.com/worldwide/japan.nsf/web/all/6F2920CAAEAB36EC86257728000C3DFC

賞品として米国ナショナルインスツルメンツ本社主催のテクニカルカンファレンス「NIWeek 2011」(米国テキサス州オースティン)に招待されます。さらにこのカンファレンスで行われるGraphical System Design Achievement Awardsに「フリップコイル直流積分磁場測定システム」が出展されます。

フリップコイル(左)と電磁石型移相器(右) 受賞対象となったフリップコイル直流積分磁場測定システムの制御パネル
(公開日: 2010年10月29日)