2011年12月11日～15日の期間、東京都江戸川区のタワーホール船堀で開催された国際会議The 6th International Symposium on Surface Science and Nanotechnology (ISSS-6)では、表面物性分野で活躍する若手研究者を奨励するためにBest Poster Awardを設けています。

本会議で吉本氏は”Independently driven four-probe measurement in pentacene organic thin-film transistors under controlled channel potential”という題目で、物性研究所吉信研究室の所有する独立駆動型4探針装置を用いた有機半導体のトランジスタ特性を測定する新たな手法に関して発表しました。本手法は試料上の任意の場所に探針を接触させて測定を行うことで有機半導体の単一結晶粒内部や単一結晶粒界のトランジスタ特性を直接測定でき、今後の有機半導体の研究において重要な役割を担うと期待されます。本研究成果を通じて吉本氏は高く評価され、このたび2011年のISSS-6のBest Poster Awardを受賞することとなりました。